仪器型号：Gemini SIGMA 300,Tescan CLARA，如需指定其它型号请联系客服
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服务周期：常规3天左右，急样提前沟通
1 样品要求：粉末、液体、薄膜、块体均可测，粉末5mg以上，液体1ml以上，薄膜、块体长宽高度小于0.5cm，尺寸超出请提前联系确认，气凝胶，水凝胶，混凝土，珊瑚沙等样品抽真空时间较长，尽可能直径小于5mm，厚度小于5mm；
2 样品磁性请一定确认清楚，避免因隐瞒样品信息导致仪器损坏，谢谢谅解；
3 一般测试选择常规电压拍摄，若对工作电压有特殊要求，请提前沟通备注；
4 如果对图片格式有特殊要求，请提前沟通备注清楚。
1 样品要求
该说明仅针对材料类样品，生物等样品另外说明。
A 粉末、液体、薄膜、块体均可测，粉末5mg以上，液体1ml以上，薄膜、块体长宽高度小于0.5cm，尺寸超出请提前联系确认，气凝胶，水凝胶，混凝土，珊瑚沙等样品抽真空时间较长，尽可能直径小于5mm，厚度小于5mm。
B 样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。
C 样品是否导电
对于不导电或导电性差的样品，建议做喷金处理（以增强样品的导电性），默认喷金时长1min，如需延长喷金时间或喷碳等请提前说明
D样品是否有磁性
磁性颗粒，易吸附到极靴上而损坏机器，请大家务必如实填写样品是否含磁及磁性的强弱。
为方便大家区分磁性及强弱，做如下定义：非磁、磁性（弱磁、强磁）。
含铁、钴、镍等磁性元素均为磁性样品，吸铁石能吸起来为强磁，吸铁石吸不起来为弱磁。
备注：磁性分硬磁和软磁，有些材料对外不表现磁性，但加磁场后容易磁化，受热后磁性增强。
2 制样说明
粉体样品，常规粉末直接粘到导电胶上进行测试，如需分散后测试请提前说明；液体样品滴到硅片上干燥测试，如有指定要求请提前说明；薄膜或块体，请标明测试面及测试区域，如需测试截面，请自行自备截面或提前详细说明。
制样上：SEM粉末一般干燥喷金直接观察，含水的生物样品需要固定脱水干燥。TEM粉末一般乙醇溶解超声分散，然后在负载上干燥后观察，因此同一个样品拍SEM和TEM 有可能在形貌上有区别。
成像原理上：TEM是通过高能量电子束穿透能力样品成像，因此需要把样品处理到微纳米量级厚度才能测试。SEM只是扫描样品表面，电子束并不穿透样品，因此对颗粒大小厚度无要求。
样品表面喷金只是在表面覆盖了几个到十几个金原子层，厚度只有几个纳米到十几个纳米，对于看形貌几乎是没有影响的，但是喷金后的样品是不建议回收的。
能谱点扫，线扫和面扫分别是在点范围，线范围和面范围内获得样品的元素半定量信息。它们的区别在于点扫可以测试材料某一点位置的元素种类和含量，线扫可以测材料在一条线上特定元素含量的变化，而面扫主要看材料在一个方形区域的元素分布状况。
EDS采样深度为1um左右，XPS采样深度为几个nm，几乎可以认为是样品表面。
EDS能谱一般只是在样品表面某个点区域测试，仅能代表该点的元素含量状况，若样品分布不均匀，就很难代表整体含量，另外EDS定量原理，制样过程，样品导电性以及元素的原子序数都对准确度有影响。如需对某一元素做准确定量，可以采用其他方法如ICP，元素分析等等，具体可以跟我们沟通为您制定合适的方案。
测SEM时，样品表面上平均原子序数较大的部位会产生较强的背散射电子信号，形成较亮的区域；而平均原子序数较低的部位则产生较少的背散射电子，形成较暗的区域，这样就形成原子序数衬度。因此主要显示的是原子序数的衬度像，一般用来分析固体样品当中某种元素的分布情况，如果结合能谱仪就可以更直观的看出元素的分布情况。
电镜图像的标尺是可以设定为固定的或可变的，同一个倍数的图片可以设置不同的标尺长度作为度量，但在同一输出媒介上的实际尺寸不变。因此，标尺数值的大小跟放大倍数没有必然关系，一般以放大倍数为衡量标准更为规范
8 SEM拍样品截面有哪些制样方法？
对于脆性薄片如硅片、玻璃镀膜片等可直接剪断或掰断，本中心默认采用剪断的方法以得到相对平整的截面；
对于有一定塑性和韧性的材料，有以下方法：
A 液氮脆断，在液氮脆化处理下将样品瞬间折断，可得到较为光滑平整的断面，本中心默认采用此法；
B 冲击断裂，该法得到断面粗糙度较大；
C 离子切割，通过离子束轰击样品截面加工应变层，要用到利用离子束抛光仪；
D 冷冻超薄切片，更接近样品固有结构，一般用于韧性很强且硬度很大的样品，如聚丙烯材料。
