1 样品尺寸要求：TEM制样的样品表面最好抛光，尺寸最好小于20mm；SEM制样的样品颗粒需在微米级；
2 样品中有磁性元素也可制样测试；另外请备注下样品的导电性，若导电性较差，会对样品进行喷金，粉体样一般是滴在硅片上风干后制样。
1 样品尺寸要求：TEM制样的样品表面最好抛光，尺寸最好小于20mm；SEM制样的样品颗粒需在微米级；
2 样品中有磁性元素也可制样测试；另外请备注下样品的导电性，若导电性较差，会对样品进行喷金，粉体样一般是滴在硅片上风干后制样。
1 FIB TEM制样步骤是什么？
找到目标位置，表面喷Pt保护➡把目标位置前后两侧挖空，剩下目标区域➡用机械纳米手将这个薄片取出，开始离子束减薄➡减薄到理想厚度后，将样品焊到铜网上的样品柱上(一个铜网上有4个柱子，最多可以放4个样品)
注意事项：制备好的样品，需要装在自吸附盒里，避免强烈碰撞导致样品从样品柱上脱落，一旦脱落，样品无法找回。
